判断光耦的好坏，可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。
1、比较法拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。
2、数字万用表检测法下面以EL817光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测电路如图1所示。检测时将光耦内接二极管的＋端{1}脚和－端{2}脚分别插入数字万用表的Hfe 的c、e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡；然后将光耦内接光电三极管C极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，e极{4}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在RX1k挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。
3、光电效应判断法仍以EL817光耦合器的检测为例，检测电路如图2所示。将万用表置于RX1k电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚；然后用一节1．5V的电池与一只50～100Ω的电阻串接后，电池的正极端接EL817的{1}脚，负极端碰接{2}脚，或者正极端碰接{1}脚，负极端接{2}脚，这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。
光耦
用两个万用表就可以测了。光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。如光电耦合器4N25，采用DIP-6封装，共六个引脚，①、②脚分别为阳、阴极，③脚为空脚，④、⑤、⑥脚分别为三极管的e、c、b极。
以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输性能未进行判断。这里以光耦4N25为例，介绍一种测量光耦传输特性的方法。判断发光二极管好坏与极性：用万用表R×1k挡测量二极管的正、负向电阻，正向电阻一般为几千欧到几十千欧，反向电阻一般应为∞。测得电阻小的那次，红笔接的是二极管的负极。
